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          鍍層測量儀有哪些無法避免的測量誤差?
          發布時間:2021-12-29   點擊次數:183次
            鍍層測量儀的測量方法主要有、楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。它是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。
            鍍層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要一環,是產品達到優等質量標準的重要手段。為使產品化,我國出口商品和涉外項目中,對覆層厚度有了明確的要求。
            鍍層測量儀的性能特點有哪些?
            1、采用雙功能內置式探頭,自動識別鐵基或非鐵基體材料,并選擇相應的測量方式進行精確測量。
            2、符合人體工程學設計的雙顯示屏結構,可以在任何測量位置讀取測量數據。
            3、采用手機菜單式功能選擇方式,操作十分簡便。
            4、可設定上下限值,測量結果超出或符合上下限數值時,儀器會發出相應的聲音或閃爍燈提示。
            5、穩定性極高,通常不必校正便可長期使用。
            鍍層測量儀無法避免的測量誤差問題分析如下:
            1、對于較薄的覆蓋層,由于受儀器本身測量精度和覆蓋層表面粗糙度的影響,較難準確測量覆蓋層厚度,尤其是當覆蓋層厚度小于5μm的情況;對于較厚的覆蓋層,其測量結果相對誤差近似為一常數,誤差隨覆蓋層厚度增加而增大。
            2、不同鐵磁性材料或同一鐵磁性材料采用不同的熱處理方式和冷加工工藝后,其磁特性均有較大差異,而材料的磁特性差異會直接影響對長久磁鐵或檢測線圈的磁作用,為減小或消除磁特性差異產生的影響,應采用磁特性與試樣基體相同或相近的金屬材料做為基體對儀器校準。
            3、鍍層測量儀由于磁場在鐵磁性基體材料中的分布狀態在一定范圍內與基體厚度密切相關,當基體厚度達到某臨界厚度時,這種影響才能減小或忽略。若試樣基體厚度小于臨界厚度時,應通過化學方法除去試樣的局部覆蓋層,利用試樣基體對儀器校準。
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