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        1. 產品中心您現在的位置:首頁 > 產品展示 > > X熒光光譜儀 > EDX3600K天瑞X熒光光譜儀EDX3600K

          天瑞X熒光光譜儀EDX3600K

          簡要描述:

          天瑞X熒光光譜儀EDX3600K由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品,產生X熒光(二次X射線),探測器對X熒光進行檢測。X熒光光譜儀屬于先進的分析檢測儀器,隨著半導體微電子技術和計算機技術的飛速發展,傳統的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從經典的化學精密機械電子學結構。

          X熒光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品,產生X熒光(二次X射線),探測器對X熒光進行檢測。X熒光光譜儀屬于先進的分析檢測儀器,隨著半導體微電子技術和計算機技術的飛速發展,傳統的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從經典的化學精密機械電子學結構、實驗室內人工操作應用模式,轉化成光、機、電、算(計算機)一體化、自動化的結構,并向智能化、小型化、在線式及儀器聯用方向發展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式X熒光光譜儀技術為基礎,結合國外相關新的技術發展成果,研制出具有自主知識產權的EDX 3600K型X熒光光譜儀,這款儀器的亮點在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔,產品通過了江蘇省計量科學研究院的檢測,并通過中國儀器儀表學會分析儀器分會組織的科技成果鑒定,技術達到較高水平。
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          軟件優勢

          采用公司新的能譜EDXRF軟件,先進的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,操作簡易,對操作人員限制小的特點。
          具有多種測試模式設置和無限數目模式自由添加,內置強度校正方法,可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
          全新的軟件界面和內核,采用FP和EC軟件組合的方法,應用面更加廣泛。

          儀器配置

          鈹窗電制冷SDD探測器
          自旋式樣品腔
          高效超薄窗X光管
          超近光路增強系統
          可自動開啟的測試蓋
          自動切換型準直器和濾光片
          真空腔體
          自動穩譜裝置
          90mm×70mm的液晶屏
          先進的數字多道技術
          多變量非線性回歸程序
          相互獨立的基體效應校正模型

          技術參數

          型號:EDX3600K
          X射線源:50KV、1mA
          樣品腔體積:Φ40.5mm×39.5mm
          分析方法:能量色散X熒光分析方法
          測量元素范圍:原子序數為9~92[氟(F)到鈾(U)]之間的元素均可測量
          檢測元素:同時分析元素達三十多種,可根據客戶需要增加元素
          含量范圍:ppm~99.99%
          檢測時間:10秒以上
          檢測對象:標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
          探測器及分辨率:超大超薄的SDD探測器,分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器至125eV
          激發源:銠靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇
          測井環境:超真空系統,10秒可抽到10Pa以下
          濾光片:6種濾光片組合自動切換
          自旋裝置:可調速的自旋裝置
          檢出限:對樣品中的大多數元素來說,檢出限達5~500ppm
          真空系統:超真空系統,10秒可到10Pa
          數據傳輸:數字多道技術,快速分析,高計數率
          測試臺:360°電動旋轉式
          保護系統:樣品腔為電動控制,上蓋打開時測試已完成
          樣品放置:獨特的樣品杯設計,自帶壓環,可防止樣品晃動
          數字多道技術:計數率>50kcps,有效計數率高至500kcps
          外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG
          操作環境濕度:≤90%
          操作環境溫度:15℃~30℃

           

          性能優勢

          1.超低能量分辨率,輕元素檢測效果更佳
          使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器,探測器分辨率達到139eV,各項指標優于國家標準。SDD探測器具有良好的能量線
          性、良好的能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。

          2. 測試精度更高,檢出限更低
          ①專業化的樣品腔設計,帶可調速的自旋樣品腔,能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響,提高樣品的測試精度。
          ②采用超小超真空的樣品腔設計,保證測試時達到10Pa以下,使設備的測試范圍可從F元素起測試,大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度。

          3. 分析速度更快,從第1秒即可得到定性定量結果
          采用自主研發的數字多道技術,其線性計數率可達100kcps,可以更加快速的分析,從第1秒就可以得出定性定量結果,
          設計成高計數率,大大提高了設備的穩定性。

          4. 一鍵式智能化操作
          專業軟件,先進的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,使操作簡易,對操作人員限制小的特點。

          5. 強大的自動化功能
          ①自動化程度高,具有自動開蓋、自動切換準直器與濾光片等功能。
          ②采用自動穩譜裝置,保證了儀器工作的*性:利用解譜技術使譜峰分解,采用多參數的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。

          6. 強度校正法
          具有多種測試模式設置和無限數目模式的自由添加,內置強度校正方法,可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。

          7. 完善的光路系統
          自主研發的光路系統,光程更短,光路損失更少,激發效果更佳。

          8. 三重安全防護功能
          三重安全防護功能,自動感應,沒有樣品時儀器不工作,無射線泄漏;加厚防護測試壁;配送測試防護安全罩。

          9. 安全警示系統
          警告指示系統,通電時綠色指示燈亮,測試時黃色輻射指示燈閃爍,防止誤操作。


          應用領域

          專為粉未冶煉行業研發的一款設備,主要應用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業、石油勘探錄井分析領域。
          同時在地質、礦樣、冶金、稀土材料、環境監測、有色金屬、食品、農業等科研院所、大專院校和工礦企業中也得到廣泛應用。

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